產品介紹:

 差示掃描量熱儀是一種測量參比端與樣品端的熱流差與溫度引數關係的熱分析儀器•·↟◕☁，主要應用於測量物質加熱或冷卻過程中的各種特徵引數•◕：玻璃化轉變溫度Tg•│₪↟•、氧化誘導期OIT•│₪↟•、熔融溫度•│₪↟•、結晶溫度•│₪↟•、比熱容及熱焓等↟•│。

主要特點:
1.全新的爐體結構•·↟◕☁，確保解析度和解析度的基線穩定性

2.數字式氣體質量流量計•·↟◕☁，控制吹掃氣體流量•·↟◕☁，資料直接記錄在資料庫中
3.儀器可採用雙向控制（主機控制•│₪↟•、軟體控制）•·↟◕☁，介面友好•·↟◕☁，操作簡便

技術引數:

差示掃描量熱儀可進行的測試專案•◕：

              DSC軟體測試圖

什麼是氧化誘導期│·✘•☁？

氧化誘導期（OIT）是測定試樣在高溫（200攝氏度）氧氣條件下開始發生自動催化氧化反應的時間•·↟◕☁，是評價材料在成型加工•│₪↟•、儲存•│₪↟•、焊接和使用中耐熱降解能力的指標↟•│。氧化誘導期（簡稱OIT）方法是一種採用差熱分析法（DTA）以塑膠分子鏈斷裂時的放熱反應為依據•·↟◕☁，測試塑膠在高溫氧氣中加速老化程度的方法↟•│。其原理是•◕：將塑膠試樣與惰性參比物（如氧化鋁）置於差熱分析儀中•·↟◕☁，使其在一定溫度下用氧氣迅速置換試樣室內的惰性氣體（如氮氣）↟•│。測試由於試樣氧化而引起的DTA曲線（差熱譜）的變化•·↟◕☁，並獲得氧化誘導期（時間）OIT（min)•·↟◕☁，以評定塑膠的防熱老化效能↟•│。